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自主研发的自动化存储芯片测试设备

顺应终端市场的爆发式增长与国产化的势在必行，本土封测厂正在快速发展高端存储芯片封测项目，而高端存储芯片测试设备的市场也会因此蓬勃发展。在这样的背景下，以“能够实现进口取代”且“能够提供新世代高效率高精准度的测试设备解决方案”为目标，我们自主研发了“CT001”存储自动化测试机台。

新世代内存测试设备解决方案：

伴随着移动终端产品的飞速发展、DRAM芯片的高速度大容量发展、CPU芯片的快速更新换代，DRAM芯片的兼容性成为设备制造商们所要面对的新环境下的新问题。在新型终端产品量产规模逐渐增大的当下，市场已然对DRAM测试设备提出了新的需求。

CT001存储自动化测试机台，凭借在DRAM领域十数年的专业积累，以区别于传统测试机台的独有系统级测试，帮助终端设备制造商以最经济高效的方式解决兼容性痛点。

低测试成本与更新成本：

在DRAM产品快速更新换代的当下，设备制造商需要测试成本更低、且模组更新成本更低的测试设备解决方案。CT001机台自动化部分由资深自动化技术团队设计打造，可根据实际厂房环境柔性化布局机台摆放，测试机柜可扩展，并行测试数高达960duts，UPH高达4000，上下料机CT=0.9s，以高效率的自动化水准极大降低测试成本。CT001存储自动化测试机台独创的可更换式测试模组，区别于传统测试机台更新原理，极大的降低了更新成本。助力于设备制造商以最高的投资效率布局未来发展战略。

集成高低温BURN-IN测试：

CT001存储自动化测试机台针对应用层面需求提升，在测试箱结构中创造性的集成了高低温BURN-IN测试模组，在对存储芯片做功能测试的同时自定义进行－50℃——125℃的高低温测试，客户无需额外支付高昂价格单独采购高低温BURN-IN设备。