产品方案


存储芯片测试设备


高精度晶粒测试分选设备


激光设备


标准测试机整体解决方案


逻辑芯片测试机


驱动芯片测试机


存储芯片测试机器

存储芯片测试设备
PRODUCTS

图片12-1
DRAM AF 一站式测试机

高精度晶粒测试分选设备
DRAM Die 测试机

开短路测试
开短路测试机

存储芯片测试设备
PRODUCTS

图片12-1
DRAM AF 一站式测试机

高精度晶粒测试分选设备
DRAM Die 测试机

开短路测试
开短路测试机

存储芯片测试设备
PRODUCTS

图片12-1
DRAM AF 一站式测试机

高精度晶粒测试分选设备
DRAM Die 测试机

开短路测试
开短路测试机

存储芯片测试设备
PRODUCTS

图片12-1
DRAM AF 一站式测试机

高精度晶粒测试分选设备
DRAM Die 测试机

开短路测试
开短路测试机

存储芯片测试设备
PRODUCTS

图片12-1
DRAM AF 一站式测试机

高精度晶粒测试分选设备
DRAM Die 测试机

开短路测试
开短路测试机

前海晶云(深圳)存储技术有限公司

地址:深圳市南山区TCL国际E城F5栋

电话:0755-81785065
邮编:518000
邮箱:why@gcloud.ltd

前海晶云(深圳)存储技术有限公司


地址:中国•东莞市凤岗镇雁田天安数码城S15栋
Building S15, Yantian Tian'an Digital City, Fenggang Town, Dongguan City, China
电话:86-769-87298956 

邮编:523685
邮箱:jfy@gcloud.ltd
公司LOGO+公司名+英文名-无底