新世代内存测试设备解决方案：

在DRAM产品快速更新换代的当下，设备制造商需要测试成本更低、且模组更新成本更低的测试设备解决方案。CT001机台自动化部分由资深自动化技术团队设计打造，可根据实际厂房环境柔性化布局机台摆放，测试机柜可扩展，并行测试数高达960duts，UPH高达4000，上下料机CT=0.9s，以高效率的自动化水准极大降低测试成本。CT001存储自动化测试机台独创的可更换式测试模组，区别于传统测试机台更新原理，极大的降低了更新成本。助力于设备制造商以最高的投资效率布局未来发展战略。

CT001存储自动化测试机台针对应用层面需求提升，在测试箱结构中创造性的集成了高低温BURN-IN测试模组，在对存储芯片做功能测试的同时自定义进行－50℃——125℃的高低温测试，客户无需额外支付高昂价格单独采购高低温BURN-IN设备。