新世代内存测试设备解决方案:
伴随着移动终端产品的飞速发展、DRAM芯片的高速度大容量发展、CPU芯片的快速更新换代,DRAM芯片的兼容性成为设备制造商们所要面对的新环境下的新问题。在新型终端产品量产规模逐渐增大的当下,市场已然对DRAM测试设备提出了新的需求。
CT001存储自动化测试机台,凭借在DRAM领域十数年的专业积累,以区别于传统测试机台的独有系统级测试,帮助终端设备制造商以最经济高效的方式解决兼容性痛点。
低测试成本与更新成本:
在DRAM产品快速更新换代的当下,设备制造商需要测试成本更低、且模组更新成本更低的测试设备解决方案。CT001机台自动化部分由资深自动化技术团队设计打造,可根据实际厂房环境柔性化布局机台摆放,测试机柜可扩展,并行测试数高达960duts,UPH高达4000,上下料机CT=0.9s,以高效率的自动化水准极大降低测试成本。CT001存储自动化测试机台独创的可更换式测试模组,区别于传统测试机台更新原理,极大的降低了更新成本。助力于设备制造商以最高的投资效率布局未来发展战略。
集成高低温BURN-IN测试:
CT001存储自动化测试机台针对应用层面需求提升,在测试箱结构中创造性的集成了高低温BURN-IN测试模组,在对存储芯片做功能测试的同时自定义进行-50℃——125℃的高低温测试,客户无需额外支付高昂价格单独采购高低温BURN-IN设备。

系统级测试解决兼容性痛点,新世代内存测试设备解决方案:
伴随着移动终端产品的飞速发展、DRAM芯片的高速度大容量发展、CPU芯片的快速更新换代,DRAM芯片的兼容性成为设备制造商们所要面对的新环境下的新问题。在新型终端产品量产规模逐渐增大的当下,市场已然对DRAM测试设备提出了新的需求。
CT001存储自动化测试机台,凭借在DRAM领域十数年的专业积累,以区别于传统测试机台的独有系统级测试,帮助终端设备制造商以最经济高效的方式解决兼容性痛点。
低测试成本与更新成本:
在DRAM产品快速更新换代的当下,设备制造商需要测试成本更低、且模组更新成本更低的测试设备解决方案。
CT001机台自动化部分由资深自动化技术团队设计打造,可根据实际厂房环境柔性化布局机台摆放,测试机柜可扩展,并行测试数高达960duts,UPH高达4000,上下料机CT=0.9s,以高效率的自动化水准极大降低测试成本。
CT001存储自动化测试机台独创的可更换式测试模组,区别于传统测试机台更新原理,极大的降低了更新成本。助力于设备制造商以最高的投资效率布局未来发展战略。
集成高低温BURN-IN测试:
CT001存储自动化测试机台针对应用层面需求提升,在测试箱结构中创造性的集成了高低温BURN-IN测试模组,在对存储芯片做功能测试的同时自定义进行-50℃——125℃的高低温测试,客户无需额外支付高昂价格单独采购高低温BURN-IN设备。

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